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當(dāng)前位置:首頁產(chǎn)品中心冷熱沖擊試驗(yàn)箱兩箱冷熱沖擊試驗(yàn)箱

  • YC-TS2-100 YC-TS2-200兩箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱芯片半導(dǎo)體高低溫

    主要用途 用于測試各種材料在瞬間下經(jīng)高溫及低溫的連續(xù)環(huán)境下忍受的程度,得以在最短時(shí)間內(nèi)檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。主要應(yīng)用于半導(dǎo)體芯片、科研院校、質(zhì)檢、新能源、光電通訊、航天軍工、汽車行業(yè)、LCD顯示、醫(yī)療等科技產(chǎn)業(yè)。

    更新時(shí)間:2026-03-13
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  • 兩箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱

    兩箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱測試時(shí)樣品放在吊籃里,做高溫測試時(shí)吊籃提到高溫箱,反之做低溫試驗(yàn)。

    更新時(shí)間:2025-08-01
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